無損卷封檢測系統

產品介紹

XTS X射線卷封及緊密度掃描儀系列，行業專/利產品

SEAMscan XTS™ 無損卷封檢測系統，即X射線緊密度掃描儀是一款全新的，無損傷且獨立運行的二重卷封和卷封緊密度檢測儀器。卷封結構原自然狀態檢測，系統提高精度，節約時間，節省大量的檢測成本。

專為制罐商和罐裝廠打造的SEAMscan XTS™無損卷封檢測系統擁有高分辨率的卷封檢測和功能強大的緊密度自動檢測系統，儀器結構緊湊，操作簡便。

無損傷檢測，節約大量的檢測樣品

SEAMscan XTS™不需要切割就能完整檢測二重卷封內部結構尺寸。

SEAMscan XTS™僅不損傷檢測樣品的優勢，就能為制罐商和罐裝廠節約數以十萬計的成本。經過二重卷封蓋鉤皺紋度（卷封緊密度），以及前面提到的卷封內部結構尺寸檢測的產品，還能100%的用于銷售。SEAMscan XTS™同時能達到FDA對二重卷檢測的標準。

SEAMscan XTS也是一款能*適應生產工廠環境的二重卷封檢測工具，既實現從卷封外部評估二重卷封質量，又節約檢測成本。

不再需要剝離拆卸卷封

世界*與首/創，質檢人員不再需要拆卸卷封來查看蓋鉤的皺紋度。SEAMscan XTS™ X射線緊密度掃描儀自動掃描全部蓋鉤的皺紋度，測量并報告客觀的緊密度數值。

采用專/利技術的SEAMscan XTS™ X射線緊密度掃描儀，無需人員參與檢測，能耗更低，采用無損傷的X射線檢測二重卷封內部結構。

“我們在20世紀90年代就能夠通過我們的SEAMscan軟件配合投影設備檢測蓋鉤皺紋度”CMC-KUHNKE的CEO Alex Grossjohann說道,“但是那套系統僅看到從二重卷封上拆卸下來的蓋鉤的表面影像。XTS不單單是在不損傷卷封的情況下檢測蓋鉤皺紋度，檢測的詳細程度也是比傳統檢測方式高出很多。”

不再評估緊密度，而是測量緊密度

人為錯誤已經成為過去——至少在二重卷封領域。

X射線緊密度掃描儀檢測二重卷封結構尺寸，以及僅有的專/利技術準確的測量卷封內部的皺紋度。蓋鉤皺紋度的檢測結果會自動發送到電腦數據庫，電腦可以實時顯示卷封質量變化趨勢分析結果。

轉用的X射線穿過二重卷封，探測蓋鉤形狀的微妙變化。電腦通過程序算法分析卷封內部各個部位的變化情況，以確定是否對卷封的密封情況造成影響。檢測結果可以使緊密度百分比，亦或是皺紋度或緊密度平均值的形式顯示。

通過行Virtual Seam Teardown™（卷封虛擬拆卸）功能，可以看到身鉤和蓋鉤彼此疊接的真實情況，是以往無法想象的。

產品版本

技術參數